CZ | EN

Defekty v monokrystalickém a nanokrystalickém ZnO

Defects in single and nanocrystalline ZnO

Defekty v monokrystalickém a nanokrystalickém ZnO

Defects in single and nanocrystalline ZnO

ANOTACE

ZnO je v současnosti jedním z nejstudovanějších materiálů, a to díky jeho ojedinělým, vlastnostem. Monokrystalický ZnO krystalizuje ve dvou uspořádáních, jejichž základem je hexagonální (wurtzit), nebo kubická struktura (sfalerit a halit). Jedná se o polovodič typu II-VI s vysokou energií zakázaného pásu (3,37 eV za pokojové teploty). V současnosti se ZnO uplatňuje ve fotodetektorech, katalyzátorech, plynových senzorech. Jeho neschopnost absorbovat viditelné světlo, špatný transport náboje a nízká vodivost však omezují jeho použití v popsaných součástkách. Nedávno bylo zjištěno, že zavedení defektů, jako jsou kyslíkové a zinkové vakance, do ZnO může účinně zlepšit stávající vlastnosti nebo vést k novým a velmi zajímavým vlastnostem. K detekci defektů lze využít společně s luminiscencí také metodu TEM a

ANNOTATION

ZnO is currently one of the most studied materials due to its unique properties. Single crystalline ZnO crystallizes in two arrangements based on hexagonal (wurtzite) or cubic structures (sphalerite and halite). It is a type II-VI semiconductor with a high forbidden band energy (3.37 eV at room temperature). Currently ZnO is applied in photodetectors, catalysts, gas sensors. However, its inability to absorb visible light, poor charge transport and low conductivity limit its use in the described components. Recently, it has been found that the introduction of defects such as oxygen and zinc vacancies into ZnO can effectively improve existing properties or lead to new and very interesting properties. TEM and EPR can be used together with luminescence to detect defects, but their characterization is not e